Використовується в системах позиціонування, що моделюють процес вирівнювання psd щодо об’єкта для визначення відносного положення між psd та об’єктом; центр вирівнюючого об'єкта 1 оснащений світлодіодом високої яскравості 2, а датчик 4 psd встановлений в мікроруху. На робочій платформі; після того, як світловий промінь, що випромінюється діодом, фокусується оптичною системою 3, світлова пляма відображається на приймальній фоточутливій поверхні psd, розміщеної у фокальній площині лінзи, і цей сигнал світлової плями перетворюється в електричний сигнал за допомогою ланцюг попереднього підсилювача 5. Потім зразок 6 через a/d і відправте його на комп’ютер 7 для обробки. Щоб визначити положення psd, вирівняно з певною точкою на площині об’єкта. Коли положення вирівнювання переміщується в межах діапазону вимірювань, відстань між світловою плямою та двома електродами psd змінюється, так що вихідний струм двох електродів змінюється зі зміною положення світлової плями. Таким чином, вимірюючи вихідний струм двох електродів датчика, ви можете дізнатися, що джерело світла на площині psd і об’єкт вирівнювання є об’єктом, який потрібно виміряти. Випромінюване ним світло проектується на фотоелемент. Вихід фотоелемента відображає деякі фізичні параметри джерела світла. Цей тип фотоелектричного датчика можна використовувати для фотоелектричної колориметрії при високій температурі. Вимірювач і вимірювач освітленості. Через вимірюваний об'єкт проходить світловий потік, що випромінюється постійним джерелом світла, частина якого поглинається, а інша частина проектується на фотоелемент. Величина поглинання залежить від певних параметрів вимірюваного об'єкта. Можна використовувати для вимірювання прозорості та каламутності. Світловий потік, що випромінюється постійним джерелом світла, проектується на вимірюваний об'єкт, а потім проектується на фотоелемент після відбиття від поверхні вимірюваного об'єкта. Інтенсивність відбитого світла залежить від характеру та стану поверхні вимірюваного об’єкта, тому з його допомогою можна виміряти шорсткість поверхні заготовки, білизну паперу тощо. Світловий потік, що випромінюється від постійного джерела світла, блокується вимірюваним об’єктом на шляху до фотоелемента, що послаблює світловий потік, що проектується на фотоелемент. Вихід фотоелектричного елемента відображає розмір або положення вимірюваного об'єкта.